Interactive Systems Labs (ISL)

Einsatz von Mustererkennungsverfahren zur Optimierung von Chip-Testplänen

  • Author:Maxim Feinleb
  • 1st Advisor:Prof. Dr. A. Waibel
  • 2nd Advisor:Dr. I. Rogina
  • University:

    KIT

  • Date:July 4, 2005