Interactive Systems Labs (ISL)

Anwendung statistischer und dynamischer Verfahren zur Fehlermustererkennung und sicheren Reduktion von Chip- Testplänen

  • Author:Maxim Feinleb
  • 1st Advisor:Prof. Dr. A. Waibel
  • 2nd Advisor:Prof. Dr. R. Dillmann
  • 3rd Advisor:

    F. Kraft

  • University:

    KIT

  • Date:September 28, 2006